膜厚計の測定結果が不正確になる原因

膜厚計の測定結果が不正確になる原因

膜厚計の不正確な測定結果は、主に次の理由によって引き起こされます。

1. 強い磁場の干渉。 機器が強い電磁場の近くで動作すると、測定が著しく妨げられます。 電磁場に非常に近い場合、クラッシュ現象が発生する可能性があります。

2. 人的要因。 厚さ計に慣れていない場合、測定器で測定する際に、プローブが被測定物から外れて磁束が変化し、誤った測定を引き起こす可能性があります。 したがって、初めて本器を使用する場合は、測定方法を十分に習得してください。 プローブの配置は、測定に大きな影響を与えます。 測定中、プローブはサンプルの表面に対して垂直に保つ必要があります。 また、マトリックス自体の磁場の干渉を引き起こさないように、プローブを長時間配置しないでください。

3. システム修正中に適切な素材を選択しなかった。 基板の最小平面は 7mm、最小厚さは 0.2mm です。 この危険な状態を下回る測定値は信頼できません。

4. 付着物質の影響。 膜厚計は付着物に敏感で、探針が塗面に密着できないため、付着物を除去して探針を塗面に直接接触させる必要があります。 体系的な修正を実行する場合、選択した素材の表面もむき出しで滑らかでなければなりません。

5. 装置が故障します。 技術者が修理するか、修理のために工場に返送してください。