磁気測定は膜厚計に大きな影響を与えますか？
いくつかの要因が膜厚計の測定に影響を与えます。 磁気法で測定される厚みは、基材の金属特性の変化に影響されます（実用上、低炭素鋼の磁気特性の変化は軽微であると考えられます）。 標準シートは機器の校正に使用されます。 母材金属の導電率は測定に影響を与え、母材金属の導電率は材料組成と熱処理方法に関係します。
試験片の母材と同じ特性を持つ標準シートを使用して機器を校正します。 各機器には臨界厚さがあり、この厚さを超えると、測定は母材の厚さの影響を受けません。 試験片の表面形状の急激な変化に敏感であるため、試験片の端や内側の角付近の測定は信頼性が低くなります。 試験片の曲率は測定に影響を及ぼしますが、曲率半径が小さくなるにつれて影響が大きくなります。そのため、曲面試験片の表面での測定も信頼性が低くなります。プローブは柔らかいコーティング試験片を変形させるため、測定に影響を与えることはできません。これらの試験片では信頼できるデータを測定できます。 母材とコーティングの表面粗さは測定に影響します。 粗さが大きくなると衝撃が大きくなり、表面が粗いと系統誤差や偶発誤差が発生します。 毎回測定するときは、この偶発的な誤差を克服するために、異なる位置での測定数を増やす必要があります。 基板上の母材が粗い場合は、同様の粗さのコーティングされていない母材試験片上で数箇所の位置を取って機器のゼロ点を校正するか、母材を腐食しない溶液を使用して溶解する必要があります。コーティングを除去してから、機器のゼロ点を校正します。 周囲のさまざまな電気機器によって発生する強力な磁場は、磁気厚さの測定作業に重大な影響を与えます。 プローブがコーティング表面に密着するのを妨げる付着物質があるため、測定中は圧力を一定に保ち、プローブと試験片の表面を垂直に保って測定を行う必要があります。
