化学および物理関連の研究室向けの金属顕微鏡の選び方
金属顕微鏡は、研究室や研究開発室で最も一般的な分析機器となっていますが、顕微鏡を頻繁に使用する専門家にとって、科学研究のニーズを満たし、コスト効率の高い顕微鏡を簡単に選択する方法は非常に頭の痛い問題です。
1: 購入する前に、テストしたいサンプルにどのタイプの顕微鏡が適しているかを知っていますか?
顕微鏡は観察サンプルに応じて機能別に分類でき、一般的には金属顕微鏡、偏光顕微鏡、実体顕微鏡、生物顕微鏡、蛍光顕微鏡などがあります。機能の異なる顕微鏡は、使用方法も異なります。 偏光顕微鏡は、主に地質鉱石などの異方性非金属材料の検出に使用されます。 金属顕微鏡は、主に金属などのさまざまな不透明な材料の内部構造の観察、識別、分析に使用されます。 工場、鉱山、企業、高等教育機関、科学研究部門に適しています。 この機器はカメラデバイスを備えており、金属組織図アトラスの撮影、アトラスの測定と分析、画像の編集、出力、保存、管理が可能です。 したがって、販売者が適切な顕微鏡を推奨できるように、購入する前に観察したいサンプルが何であるかを把握する必要があります。
2. 正立顕微鏡を購入しますか、それとも倒立顕微鏡を購入しますか?
この質問に答える前に、正立顕微鏡と倒立顕微鏡の違いを明確にする必要があります。
材料顕微鏡としても知られる金属顕微鏡は、主に金属組織の構造を観察するために使用され、正立金属顕微鏡と倒立金属顕微鏡に分けられます。
正立金属顕微鏡は観察中にポジ像を形成するため、ユーザーの観察と識別に大きな利便性をもたらします。 高さ20-30mmの金属サンプルの分析と識別に加えて、人々の日常習慣と一致しています。 、そのため、透明、半透明、または不透明な物質でより広く使用されています。 サーメット、電子チップ、プリント回路、LCD 基板、フィルム、繊維、粒状物体、コーティング、その他の材料の表面構造や痕跡など、3 ミクロンを超え 20 ミクロン未満の観察対象物には、良好なイメージング効果が得られます。 さらに、外部カメラシステムはビデオスクリーンやコンピュータに簡単に接続でき、リアルタイムおよび静的および動的画像の観察、保存、編集、印刷を行うことができ、さまざまなソフトウェアと組み合わせて、より専門的な金属組織検査、測定、および分析のニーズを満たすことができます。インタラクティブな教育分野。 倒立金属顕微鏡は、光学平面イメージングの方法を使用して、さまざまな金属や合金の構造を特定および分析します。 これは、金属組織学における金属組織学的研究のための重要なツールです。 鋳造品の品質検査や原材料の検査など、工場や研究室で幅広く使用できます。 、またはプロセス処理後の材料の金属組織の研究と分析により、直感的な分析結果が得られます。これは、鉱山、冶金、製造、機械における鋳造、製錬、熱処理の品質識別と分析のための重要な機器です。加工産業。 近年、マイクロエレクトロニクス業界では、チップ製造をサポートするために高倍率の平面顕微鏡が必要になっています。 したがって、金属顕微鏡は普及と使用のためにこの分野に導入されており、業界の特殊なニーズを満たすために継続的に改良されています。 倒立金属顕微鏡は、試料の観察面が下方では作業台の表面と一致し、観察対物レンズが作業台の下に配置されて上方から観察するため、この観察形態は試料の高さに制限されず、容易に観察することができます。使用するには、装置はコンパクトな構造で、美しく寛大です。倒立金属顕微鏡のベースには大きな支持領域があり、重心は低く、正確で、安定していて信頼性が高く、接眼レンズと支持面は傾斜しています。 45度なので快適な観察が可能です。
倒立金属顕微鏡は、標準構成の選択に加え、技術改良により直接画像出力機能を搭載し、コンピュータと簡単に接続してソフトウェアを適用することでプロセス要件に応じたインテリジェントな処理が可能になりました。 簡単に言えば、直立したサンプルを下に置き、逆さのサンプルを上に置きます。 直立した対物レンズは下を向き、逆さの対物レンズは上を向きます。 つまり、ステージの下に倒立レンズがあり、テストブロックはテスト面を下にしてステージ上に置かれます。 このとき、レンズは下、試験ブロックは上下逆となり、レンズは試験面を下から上に観察します。
ステージ上に正立したレンズがあり、ステージ上にテストブロックが上向きに配置されます。 このとき、レンズが上、試験ブロックが上となり、レンズが試験面を上から下に観察します。
サンプルに応じて顕微鏡を選択した後、基本的には上記のポイントを参考にして、正立顕微鏡か倒立顕微鏡のどちらを選択するかを検討してください。 同時に、既存のサンプル前処理条件も考慮する必要があります。これは、正立顕微鏡ではサンプル前処理の要件が比較的高いのに対し、倒立顕微鏡では比較的低いためです。
