蛍光顕微鏡における明視野-暗視野-のイメージング方法
(1) 明視野イメージング (BFI) 方式。近軸領域の透過電子ビームのみが対物レンズの開口を通過し、明るい背景に暗い像を形成します。対物レンズの絞りが小さいほど、明視野画像のコントラストは大きくなります。 (2) 暗視野イメージング (DFI) は、透過ビームをブロックしながら、大角散乱ビームまたは結晶の特定の回折ビームの一部のみが対物レンズの開口を通過できるようにする技術です。これにより、暗い背景に明るいグラフィック イメージが形成されます。この暗視野撮影法は画像のコントラストを向上させることができ、重要な撮影技術です。
ライカ蛍光顕微鏡を使用して暗視野画像を取得するには、大きく 4 つの方法があります。(1) 対物レンズの絞りを移動しながら光軸に沿って垂直照明を維持する。 (2) 斜め照明を使用して光軸方向の散乱ビームを捕捉することは、中央暗視野イメージング (CDFI) と呼ばれます。 (3) 中央のビームストップと円形の透明領域を備えた対物レンズ開口。 (4) 光検出には円形の透明な集光レンズを使用し、対物レンズには中央の円形開口を使用します。ここでの * 方法は最も単純ですが、遠位スリーブ領域で電子イメージングを使用するため、収差が大きく、画質はあまり良くありません。 2 番目の方法では上記の欠点を回避できますが、ライカ蛍光顕微鏡の対物絞りは散乱回折電子のごく一部しか受け取らないため、効率が低くなります。絞りの側面は多くの場合、大量の電子衝撃を受けるため、非対称な汚染が発生しやすく、画質に影響を与える可能性があります。環状対物レンズはこの点で改良されているが、製造が難しく、完全な軸対称を達成することが難しいという欠点がある。照明システムの要件が比較的緩和されている場合、後者の解決策を採用できます。これには、サンプルに中空ビーム照明を提供するためにコンデンサーに環状開口部を追加することが含まれます。この装置の効果です。画像解像度は明視野画像に近くなり、コントラストは大幅に向上します。
