膜厚計使用上の注意事項
a 卑金属の特性
磁気法の場合、標準片の母材の磁気特性及び表面粗さは、試験片の母材と同様でなければならない。 渦電流法の場合、標準板の母材の電気的特性は、試験片の母材の電気的特性と同様でなければならない。
b 母材の厚さ
母材の厚さが臨界厚さを超えているかどうかを確認し、そうでない場合は、3.3 のいずれかの方法を使用して校正します。
c エッジ効果
エッジ、穴、内側の角など、試験片の急激な変化の近くで測定を行うべきではありません。
d 曲率
試験片の曲面での測定は行わない。
e 読み取り回数
機器からの各読み取り値は同一ではないため、多くの場合、各測定領域内で複数の読み取り値を取得する必要があります。 カバーの厚さの局所的な変動も、特に表面が粗い場合、特定の領域で複数の測定が必要です。
f 表面の清浄度
測定前に、ほこり、グリース、腐食生成物など、表面に付着した物質をすべて除去する必要がありますが、被覆物質は除去しないでください。
膜厚計におけるF、N、FNの違い：
Fは、鉄強磁性基板を表します。 F 型膜厚計は、電磁誘導の原理を採用して、非強磁性コーティング、およびスチールや鉄などの強磁性金属基板上のコーティングを測定します。たとえば、塗料、粉末、プラスチック、ゴム、合成材料、リン酸塩層、クロム、亜鉛、鉛、アルミニウム、スズ、カドミウム、磁器、エナメル、酸化物層など
Nは非鉄非鉄基板の略で、N型膜厚計は渦電流の原理を採用しています。 渦電流センサーを使用して、銅、アルミニウム、亜鉛、スズ、およびその他の基板上のエナメル、ゴム、塗料、プラスチック層などを測定します。
FN型膜厚計は、電磁誘導の原理と渦電流の原理を併用しています。 F型とN型の2in1の膜厚計です。
