膜厚計の測定誤差の主な原因
膜厚計は新しい磁気誘導技術、つまりホール効果を採用しています。 ホール電圧と動作電流の関係を調べることで、電磁石の磁場と透磁率を測定し、ホール電圧と磁場の関係を調べます。 この磁場は規則的になります。 この原理を膜厚計に応用すれば、試験片の調整は不要です。 特に円弧や凹面の製品を測定する場合は、より簡単で便利に使用できます。
膜厚計は電磁誘導方式で膜厚を測定します。 コンポーネントの表面に配置されたプローブは、閉じた磁気回路を生成します。 プローブと強磁性材料の間の距離が変化すると、磁気回路がさまざまな程度に変化し、プローブ コイルの磁気抵抗とインダクタンスが変化します。 この原理を利用して、プローブと強磁性体の間の距離、つまりコーティングの厚さを正確に測定できます。
膜厚計を長期間使用しない場合は、電池のロックアップを防ぐため、定期的に充放電を行ってください。 一部の小さなワークピースまたは特にコーティング層が薄いワークピースの場合は、連続測定方法を使用することをお勧めします。
膜厚計の測定誤差の主な原因:
1. シクネスゲージの測定対象物は、構造や形状が異なります。 構造の異なるワークでは、構造や形状によって磁場分布が異なり、測定誤差の原因となります。
2. 測定物自体に磁性があります。 一部の材料は、処理中または特定のプロセス要件中にテストされる材料に残留磁場を持っています。 その不均一な分布のために、結果として生じる測定誤差も一貫性がなく、同じワークピースの一部の部品の測定値が突然大きくなったり小さくなったりします。
3. 同じ材料の異なる部分でも、磁場に変化が生じる場合があります。 例えば、材料の端部と中央部では磁場分布が異なり、測定誤差の原因となります。
4.測定された材料の特性が異なり、磁束が異なります。これもエラーの理由の1つです。
5.素材のサイズと厚さが異なり、測定誤差につながる可能性もあります。
6.測定された材料の表面は十分に滑らかではなく、これもエラーの原因です。
