RTOデジタルオシロスコープを使用して時間領域と周波数領域でEMIの問題を解決します

RTOデジタルオシロスコープを使用して時間領域と周波数領域でEMIの問題を解決します

RTO デジタル オシロスコープは、開発エンジニアが電子機器を設計する際に時間領域と周波数領域で EMI の問題を解析し、EMI の原因を特定するのに役立ちます。RTO デジタル オシロスコープは入力ノイズが非常に低く、0-4GHz の全帯域幅範囲内で 1mv/div の感度を達成できます。RTO のリアルタイム FFT スペクトル解析機能は、近接場プローブ解析と組み合わせて使用​​することで、EMI の問題を診断できます。

図: R&S RTO デジタルオシロスコープ – 低ノイズフロントエンド/高性能 FFT により強力な EMI 診断ツールを実現

EMI 診断の鍵となるのは FFT 技術です。従来のオシロスコープの FFT 機能では、周波数領域でパラメータを設定することが難しく、スペクトル解析に時間がかかります。R&S RTO オシロスコープの FFT 操作インターフェースはスペクトル アナライザに基づいているため、ユーザーはスペクトル アナライザを使用する場合と同じように、開始周波数、カットオフ周波数、帯域幅分解能、検出器タイプなどのパラメータを直接設定できます。

強力な FFT 技術と RTO オシロスコープの大容量メモリを組み合わせることで、ユーザーは時間領域と周波数領域のパラメータを個別に設定し、時間領域と周波数領域で柔軟に分析を行うことができます。これらの機能により、ユーザーは放射干渉源を可能な限り迅速に検出できます。

R&S RTO オシロスコープは、周波数領域解析にオーバーラップ FFT を使用します。オーバーラップ FFT 技術により、スプリアス放射に対する高い感度を実現し、偶発的なスプリアス周波数ポイントをキャプチャできます。オシロスコープは、まずキャプチャした時間領域信号を複数の時間セグメントに分割し、次に FFT 計算を実行して各時間セグメントのスペクトルを取得します。これにより、低エネルギーの偶発的なスプリアス信号をスペクトルでキャプチャできます。

次に、異なる周波数の信号が異なる色でマークされ、すべての期間の FFT 分析スペクトルが完全なスペクトルに結合されます。

放射線と偶発放射線は異なる色でマークされています。異なる色マーキング技術を使用したスペクトル分析により、EMI 放射線の種類と周波数を完全に示すことができます。

ウィンドウ FFT 技術により、キャプチャした信号の時間ウィンドウをカスタマイズし、時間ウィンドウ内の信号のみに対して FFT 分析を実行し、このウィンドウをスライドすることで各時間領域信号とスペクトルの対応関係を分析できます。たとえば、この技術を使用して、スイッチング電源のトランジスタ オーバーシュートによって発生する EMI 問題を分析できます。問題箇所を確認した後、ユーザーは整流の効果をすばやく検証できます。

テンプレート ツールは、漂遊放射の問題を分析する際にも非常に効果的です。ユーザーは周波数領域でテンプレートを定義し、違反信号に対応する設定を行うことで、どの信号がスペクトル違反を引き起こしているかを正確に判断できます。キャプチャされた信号に対しても、ウィンドウ サイズや周波数分解能などの FFT パラメータを調整できます。このような強力な機能により、キャプチャが困難な EMI 放射を慎重に分析できます。

R&S RTO オシロスコープは、豊富な収集および解析機能により、オシロスコープの新たなベンチマークを確立しました。同時に、R&S HZ-15 近距離場プローブなどの幅広いアクセサリと組み合わせることで、EMI 診断ソリューションの完全なセットを提供します。