膜厚計の測定に影響を与える要因は何ですか?
1.母材の磁気特性
磁気厚さ測定は、母材金属の磁気変化の影響を受けます (実際のアプリケーションでは、低炭素鋼の磁気変化はわずかと見なすことができます)。 熱処理、冷間加工などの影響を避けるために、試験片の金属と同じ特性を持つ鉄の基板で機器を校正する必要があります。
2. 母材の厚さ
すべての楽器には、母材の重要な厚さがあります。 これを超える厚さの測定値は、基板の厚さの影響を受けません。
3.エッジ効果
装置は、試験片の表面形状の急激な変化に敏感です。 したがって、テスト ストリップの端または内側の角付近の測定値は信頼できません。
4.曲率
試験片の曲率は測定に影響を与え、この影響は常に曲率半径の減少とともに大きくなります。 したがって、許容曲率半径を超える試験片の曲面では測定しないでください。
5. 表面粗さ
母材金属とオーバーレイの表面粗さは、測定に影響を与えます。 粗さが増すほど、影響が大きくなります。 粗い表面は、系統的エラーと偶発的エラーの両方を引き起こす可能性があります。 測定ごとに、この時折発生するエラーを克服するために、さまざまな位置で測定数を増やす必要があります。 母材金属が粗い場合は、同様の粗さでコーティングされていない母材金属試験片でいくつかの位置を取り、機器のゼロ点を校正する必要もあります。 または、非腐食性溶液でベース メタル コーティングを除去してから、計器のゼロ点を校正します。
6. 磁場
周囲のさまざまな電気機器から発生する強力な磁場は、磁気法による厚さ測定の作業に深刻な影響を与えます。
7. プローブの圧力と位置
プローブが試験片に加える圧力の量は、測定値の読み取りに影響します。 したがって、計器プローブはばねを使用して実質的に一定の圧力を維持する。 測定中、プローブはサンプルの表面に対して垂直に保つ必要があります。
8. 読み取り回数
多くの場合、機器からの読み取り値は、読み取りごとに正確に同じではありません。 したがって、各測定領域内で複数の読み取り値を取得する必要があり、オーバーレイの厚さの局所的な変動も、任意の領域内で複数回測定する必要があります。 粗い表面はなおさらです。
