起動時に膜厚計が干渉する場合があるのはなぜですか?
機器の電源を入れると、機器の画面に測定ステータスの矢印が表示され、再度測定を実行できなくなります。これは機器が干渉を受けていることを意味します。 主な理由は 2 つあります。
(1) 起動時にプローブが鉄台に近づきすぎ、鉄台の磁界の影響を受ける。
(2) プローブが正しく挿入されていない、またはプローブラインが損傷している。
コーティングおよびクラッディングの測定は、加工産業および表面工学の品質検査の重要な部分となっており、製品が高品質基準を満たすために不可欠な手段となっています。 製品を国際化するために、我が国の輸出商品や海外関連プロジェクトにおける塗膜の厚さの測定には明確な要件と規制があります。
膜厚の測定方法には主に、ウェッジカット膜厚測定、光学断面膜厚測定、電解膜厚さ測定、膜厚差測定法、秤量法膜厚測定、蛍光X線法膜厚測定、後方散乱法による膜厚測定、コーティングなどがあります。静電容量法による測定、磁気測定法や渦電流測定法による厚さ測定などがあります。このうち最初の5つは破壊検査であり、測定方法は煩雑で時間がかかり、ほとんどが抜き取り検査に適しています。 特に近年の科学技術の進歩に伴い、磁気測定塗装シリーズと渦電流法を用いた膜厚計は、小型化、インテリジェント化、多機能化、高精度化、実用化の方向に向けて大きな一歩を踏み出しました。 測定分解能は 1 ミクロンに達し、精度は 1% に達し、大幅に向上しました。 膜厚計は適用範囲が広く、測定範囲が広く、操作が簡単で価格も安いです。 産業および科学研究において最も広く使用されている膜厚計です。
