膜厚計の測定精度に影響を与える要因
マトリックス金属の磁気特性
磁気法による厚さ測定は、母材の磁気変化の影響を受けます（実際の用途では、低炭素鋼の磁気変化は軽微であると考えられます）。熱処理や冷間加工の要因の影響を避けるために、試験片の母材と同じ特性を持つ標準部品を使用して機器を校正する必要があります。コーティングする試験片を使用して校正を実行することもできます。
卑金属Bの電気的性質
導電率は測定に影響を与え、母材の導電率はその材料組成と熱処理方法に関係します。機器の校正には、試験片の母材と同じ特性を持つ標準片を使用します。
C 母材の厚み
各器具には、ベースメタルの臨界厚さがあります。これ以上の厚みであれば、母材の厚みの影響を受けずに測定できます。この機器の臨界厚さの値は付録 1 に示されています。この機器のエッジ効果は、試験片の表面形状の急激な変化に敏感です。したがって、試験片の端や内側の角付近の測定は信頼性が低くなります。
eの曲率
試験片の曲率は測定に影響します。この影響は、曲率半径が減少するにつれて常に大幅に増加します。したがって、曲がった試験片の表面での測定は信頼性が低くなります。
f試験片の変形
プローブは柔らかいカバー層の試験片を変形させるため、これらの試験片で信頼性の高いデータを測定できます。
表面粗さg
母材や被覆層の表面粗さは測定に影響します。粗さが増し、衝撃が増します。表面が粗いと、系統的かつ偶発的なエラーが発生する可能性があります。このような偶発的な誤差を克服するには、各測定中にさまざまな位置での測定数を増やす必要があります。下地金属が粗い場合、機器のゼロ点を校正するために、同様の粗さのコーティングされていない下地金属試験片上でいくつかの位置を取る必要があります。または、母材を腐食しない溶液で被覆層を溶解し、機器のゼロ点校正を行ってください。
