従来のコーティング厚さ計の仕組み
コーティング、メッキ、塗装、ラミネート、化学的に形成されたフィルムなど、材料の表面を保護し、装飾するために形成される被覆層は、関連する国家規格および国際規格ではコーティングと呼ばれています。
コーティングの厚さの測定は、加工業界や表面工学における品質検査の重要な部分となり、製品が優れた品質基準を満たすための不可欠な手段となっています。製品の国際化を図るため、わが国の輸出商品や対外関連プロジェクトでは、コーティングの厚さに対する明確な要件が設けられています。
コーティングの厚さを測定する主な方法には、くさび切断法、光遮断法、電気分解法、厚さ差測定法、重量法、X線蛍光法、線後方散乱法、静電容量法、磁気測定法、渦電流測定法などがあります。これらの方法の最初の5つは破壊試験です。測定方法は面倒で時間がかかり、ほとんどがサンプリング検査に適しています。
X 線法と α 線法は非接触かつ非破壊の測定ですが、デバイスが複雑で高価であり、測定範囲が狭いです。放射性源が存在するため、ユーザーは放射線防護規制に準拠する必要があります。X 線法では、極薄コーティング、二重コーティング、合金コーティングを測定できます。α 線法は、コーティングおよび基板原子番号が 3 を超えるコーティングの測定に適しています。静電容量法は、薄い導体上の絶縁コーティングの厚さを測定する場合にのみ使用されます。
技術の進歩が進み、特に近年のマイクロコンピュータ技術の導入以降、磁気方式と渦電流方式の厚さ計は小型、インテリジェント、多機能、高精度、実用化に一歩近づきました。測定分解能は0.1ミクロンに達し、精度は1％に達し、大幅に向上しました。適用範囲が広く、測定範囲が広く、操作が簡単で、価格が安いため、産業界や科学研究で最も広く使用されている厚さ測定器です。
非破壊検査法なのでコーティングや基材を破壊せず、検査速度も速いため、大量の検査を経済的に行うことができます。
