エラーを減らすための膜厚計の使い方
膜厚計を使用して測定する場合は、透磁率の異なる材料による測定誤差を避けるために、測定材料をゼロ調整基板として使用するようにしてください。 試験する材料の同じ部分がゼロ調整されるまで待ってから、側面のワークのエッジと中央部分など、別々にゼロ調整する必要がある同じ部分を測定します。
膜厚計で測定する場合、大きな誤差を避けるために、プローブと測定対象の材料の表面が垂直に保たれることにも注意する必要があります。 測定が同じポイントで行われる場合、プローブは毎回 10 cm 以上離すことができ、測定結果がプローブの磁化の影響を受けないように、数秒後に測定を実行する必要があります。測定材料。
ゼロ調整に使用する膜厚計の表面は、できるだけ平滑に保つ必要があります。 表面が滑らかでない場合は、表面粗さが測定値に大きく影響するため、状況に応じて平均値をとってください。 異なる構造は、ゼロ調整で別々に測定する必要があります。平面をゼロ調整して側面平面を測定し、ゼロ調整後に凹面を測定し、ゼロ調整後に凸面を測定して、異なることによる測定誤差を回避します。構造。
