膜厚計使用時の遵守事項
地金の特徴
磁気法の場合、標準品の母材の磁気特性と表面粗さは試験片の母材の磁気特性と表面粗さに類似している必要があります。
渦電流法の場合、標準基板金属の電気的特性は試料基板金属の電気的特性と類似している必要があります。
B 母材の厚み
母材の厚みが臨界厚みを超えていないか確認してください。そうでない場合は、3.3 のいずれかの方法をキャリブレーションに使用できます。
エッジ効果を-
エッジ、穴、内側の角など、試験片に近い急激な変化の箇所では測定を行わないでください。
D曲率
試験片の曲面上では測定しないでください。
E 読み取り頻度
通常、機器の各測定値はまったく同じではないため、各測定領域内で複数の測定値を取得する必要があります。被覆層の厚さの局所的な違いもあり、特に表面を粗面化する際には、任意の領域内で複数の測定を行う必要があります。
F 表面の清浄度
測定前に、表面のゴミ、グリース、腐食生成物などの付着物をすべて除去する必要がありますが、被覆材は除去しないでください。
