膜厚計の使用要件

膜厚計の使用要件

膜厚計をより良く使用するために、ユーザーの不適切な操作による膜厚計の不正確な測定結果を避けるために、一般的に膜厚計の用途要件を製品の説明に記載します。 このため、次回は膜厚計の適用要件を紹介します。

膜厚計のアプリケーションリクエスト:

1. 磁性基板の金属特性は、標準シートの母材と試験片の母材の磁性が同等であり、表面粗さも同様です。 渦電流法の場合、標準片の母材と試験片の母材の電気的特性も同様です。

2. 母材の厚みを確保するには、母材の厚みが臨界厚みを超えていないか確認してください。 そうでない場合は、1 点または 2 点を使用して校正できます。

3. エッジ効果は、エッジ、穴、内側のコーナーなど、試験片に近い部分の緩やかな変化では測定できません。

4. ワークの曲面では曲率測定はできません。

5. 一般的に操作方法や基材の均一性により、各測定の読み取り値が完全に同じにならない場合があるため、膜厚計を使用する場合は各測定領域で複数の読み取り値を取得する必要があります。 さらに、被覆層の厚さが不均一であるため、任意の領域で複数の測定を実行する必要があります。 また、表面の粗さも測定結果に影響します。

6. 膜厚計を使用して膜を測定する前に、表面のゴミ、油分、腐食性物質などの付着物を除去してください。清掃の際は、測定する膜を損傷しないよう注意してください。

以上の内容は膜厚計の適用要件をご紹介したものであり、皆様の適用の参考になれば幸いです。