膜厚計測定誤差の主な原因のいくつか

膜厚計測定誤差の主な原因のいくつか

膜厚計を長期間使用しない場合は、バッテリーのロックを防ぐために定期的に充放電する必要があります。 一部の小さなワークや特にコーティング層が薄いワークの場合は、連続測定を推奨します。 Yiliu Instrument と一緒に膜厚計の測定誤差の主な原因を理解しましょう。

膜厚計の測定誤差にはいくつかの理由が考えられます。
1. 厚さ計で測定する材料の構造や形状は異なります。 ワークの構造が異なる場合、構造や形状の違いにより磁界分布が変化し、測定誤差が生じます。

2. 測定物自体に磁性が含まれています。 一部の材料では、加工中または特定のプロセス要件中にテスト対象の材料内に残留磁場が存在します。 分布が不均一であるため、測定誤差もばらつき、同じワーク上の一部の部分の測定値が突然大きくなったり、小さくなったりします。

3. 同じ材料の異なる部分でも磁場に変化が生じる可能性があります。 たとえば、材料の端と中央の領域では磁場の分布が異なり、測定誤差の原因となります。

4. 測定される材料の特性が異なると、磁束も異なります。これも誤差の原因の 1 つです。

5.素材のサイズと厚さが異なるため、測定誤差が生じる可能性があります。

6. 測定材料の表面が十分に滑らかではないことも誤差の原因です。

膜厚計は電磁誘導方式により膜厚を測定します。 コンポーネントの表面に配置されたプローブは閉磁気回路を生成します。 プローブと強磁性体間の距離が変化すると、磁気回路がさまざまな程度に変化し、プローブコイルの磁気抵抗とインダクタンスが変化します。 この原理を利用して、プローブと強磁性体の間の距離、つまりコーティングの厚さを正確に測定できます。