膜厚計の測定誤差の主な理由

膜厚計の測定誤差の主な理由

膜厚計はホール効果という新しい磁気誘導技術を採用しています。ホール電圧と動作電流の関係を調べることで、電磁石の磁場と透磁率を測定し、ホール電圧と磁場の関係を調べます。この磁場は規則的になります。この原理を膜厚計に応用すると、試験片の再調整が不要になります。特に円形や凹面の製品を測定する場合、より簡単で便利です。

膜厚計は電磁誘導方式により膜厚を測定します。コンポーネントの表面に配置されたプローブは閉磁気回路を生成します。閉磁気回路は、プローブと強磁性体の間の距離が変化するにつれてさまざまな程度に変化し、磁気抵抗とプローブコイルのインダクタンスが変化します。この原理を使用して、プローブと強磁性材料の間の距離、つまりコーティングの厚さを正確に測定できます。

膜厚計を長期間使用しない場合は、バッテリーのロックを防ぐために定期的に充放電する必要があります。一部の小さなワークや特にコーティング層が薄いワークの場合は、連続測定を推奨します。

膜厚計の測定誤差の主な原因は次のとおりです。
1. 厚さ計は、さまざまな構造や形状の材料を測定します。ワークの構造が異なる場合、その構造や形状により磁界分布が異なり、測定誤差が生じます。

2. 試験材料自体に磁性が含まれています。材料によっては、加工中または特定のプロセス要件中に、試験対象の材料内に残留磁場が存在する場合があります。分布が不均一であるため、測定誤差もばらつき、同じワークでも特定の部分の測定値が急激に増加したり、減少したりすることがあります。

3. 同じ材料の異なる部分によっても、材料の端と中央領域で異なる磁場分布が生じるなど、磁場の変化が生じる可能性があり、これが測定誤差につながる可能性があります。

4. テストされる材料の特性が異なると磁束も異なります。これも誤差の原因の 1 つです。

5. 材料のサイズや厚さが異なると、測定誤差が生じる可能性があります。

6. テストされた材料の表面が十分に滑らかではなく、これもエラーの原因です。