膜厚計の校正手順

Jun 03, 2024

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膜厚計の校正手順

 

1) 膜厚計の校正 - 下地校正
テストのために 2 つの基板 (鉄のベースは 1 つだけ) に機器をしっかりとぴったりと置きます。テスト結果が両方とも {{0}} の場合は、テストに校正プレートを直接使用するか、顧客の製品を直接テストできます。テスト基板の結果に数値がある場合は、基板をテストする前に「ゼロ」キーを押してゼロにリセットします(校正のために校正シートに置くことはできません。そうしないと負の数値が表示されます)。テスト基板に 0 が表示された場合は、キャリブレーションが成功したことを示します。まだ値がある場合は、キャリブレーション値が 0 になるまで上記のゼロ調整手順を繰り返すことができます。


2) 膜厚計用校正片 - 校正・補正
偏差範囲内の値を含むテスト校正シートにより、顧客の製品を直接テストできます


校正シートをテストすると、数値の偏差が大きくなります。 「上」「下」キーを押して、キャリブレーションシートの数値を修正します。値が通常の誤差の範囲内になるまで、上記の手順を複数回繰り返して修正できます。


3) 膜厚計を工場出荷時の設定に戻します。
操作に誤りがあり、修正するかどうか不明な場合は、「左上」キーと「右上」キーを同時に押すと、校正するかどうかを示す英語のプロンプトが表示されます。上下キーで「YES」を選択し、「Unit Switch」キーを押して工場出荷時の設定が復元されていることを確認し、校正手順に従って校正して通常どおり使用してください。


膜厚計の校正要件
1 外観
要件: 厚さのあるシートの両面に傷、凹凸、その他の欠陥がない必要があります。校正方法:目視観察。


2 有効面積
要件: 凹凸のある表面には、半径 5 mm を超える円形の領域でマークを付ける必要があり、均一な表面の厚さの領域は 20 mm x 20 mm 以上である必要があります。校正方法:スチール定規で測定します。


3 つの数値の平均。
校正方法:第 3 種測定ブロックと垂直光学ゲージを使用して、直接法または比較法を使用して標準厚さシートの厚さを測定します。測定前に、測定ブロック、厚さシート、光学ゲージアンビル、測定ヘッドを航空ガソリンで洗浄してください。校正時に使用する測定キャップの曲率半径は 20mm 以上である必要があります。測定ロッドを下げるときは、標準厚シートへの衝撃を避けるため、測定キャップと標準厚シートをフォークなどで軽く接触させてください。校正点は有効エリア内に均等に分布した5点(中心点を含む)です。有効面積表示のない標準厚板の場合、有効面積は中心を中心とした半径10mm以上の円内と規定されています。


4 均一性エラー
要件: 標準厚さのシートの均一性誤差。校正方法は、各点での厚さの読み取り値と平均厚さの差を標準厚さシートの均一性誤差として取り、その値が表 2 の要件を超えてはなりません。

 

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