膜厚計がエラーを検出する主な理由は 6 つあります。
膜厚計には新しい磁気誘導技術であるホール効果が使用されています。 電磁石の磁場と透磁率を解析し、ホール電圧と磁場の関係を調べ、ホール電圧と動作電流の関係を調べます。 この磁場は繰り返され始めます。 この理論を膜厚計で使用する場合、テスト コンポーネントを変更する必要はありません。 特に円弧または凹面の製品を測定する場合、これは使いやすく、より実用的です。
電磁誘導技術は、コーティングの厚さを決定するためにコーティング厚さスケールによって使用されます。 完全な磁気回路は、コンポーネントの表面に取り付けられたプローブによって生成されます。 プローブと強磁性体の距離が変化すると磁気回路がさまざまに変化し、その結果、プローブコイルの磁気抵抗やインダクタンスが変化します。 この考え方は、コーティングの厚さ、またはプローブと強磁性体の間の距離を正確に測定するために適用できます。
膜厚計を長期間使用しない場合にバッテリーがロックしないようにするには、定期的に充電および放電する必要があります。 一部の小さなワークピースや特に薄いコーティング層を持つワークピースの場合は、連続測定をお勧めします。
膜厚計の測定の不正確さは、さまざまな要因に起因する可能性があります。
1. 厚さ計で測定する材料は独特の構造と形状を持っています。 さまざまな構造形状のワークの磁場分布のばらつきにより、測定誤差が発生します。
2. 試験対象の材料はすでに磁性を持っています。 材料によっては、特定のプロセスのニーズや残留磁場が存在する場合があり、プロセス中にテストする必要があります。 測定誤差が不均一に分布しているため、同じワーク上の一部の部品では測定値が突然大きい値から小さい値に変化します。
3. 磁場の変化は、同じ物質の異なる成分によっても生じる可能性があります。 たとえば、磁場の分布が材料の端と中心で異なるため、測定誤差が発生します。
4. 測定される材料の特性が異なるため、磁束も異なり、誤差の原因となります。
5. 素材の寸法や厚さにはばらつきがあるため、測定誤差が生じる場合もあります。
6. 誤差に寄与するもう 1 つの要因は、測定対象の物質の表面が十分に滑らかではないことです。
