情報が膜厚計の測定値と一致しないのはなぜですか
異なる材料の透磁率の変化によってもたらされる測定の不正確さを避けるために、膜厚計を使用する場合は、測定された材料をゼロ調整基板として利用するようにしてください。 側面のワークのエッジと中心は独立してゼロ調整する必要があります。 測定する材料の同じ部分をゼロ調整した後、同じ部分の測定を実行する必要があります。
膜厚計を使用する場合、大幅な誤差を防ぐために、プローブと測定対象の材料の表面を垂直に保つことも重要です。 測定対象物のプローブの磁化が測定結果に影響を与えるのを防ぐため、同じ場所で測定する場合は、プローブを測定対象物から 10 cm 以上離すことができます。
ゼロ調整に使用する膜厚計の外面は、できる限り滑らかに保つ必要があります。 外面が平滑でない場合は、外面の粗さが測定値に大きく影響しますので、平均値を適切に使用してください。 異なる構造によって引き起こされる測定誤差を回避するには、異なる構造が独自のゼロ調整測定を実行し、平面をゼロ調整し、ゼロ調整後に凹面を測定し、ゼロ調整後に凸面を測定する必要があります。
