膜厚計の影響要因の説明
a 母材の磁気特性
磁気厚さの測定は母材の磁気変化の影響を受けます（実際の用途では、低炭素鋼の磁気変化はわずかであると考えられます）。熱処理および冷間加工要因の影響を避けるために、磁気厚さの測定を使用する必要があります。標準シートは機器の校正に使用されます。 コーティングするテストピースを校正にも使用できます。 の
b 卑金属の電気的特性
測定に影響を与えるのは導電率であり、母材の導電率はその材料組成や熱処理方法に関係します。 測定器は、試験片の母材と同じ特性を持つ標準シートを使用して校正されます。 の
c 母材の厚さ
すべての楽器には、ベースメタルの重要な厚さがあります。 この厚さを超えると、測定は母材の厚さの影響を受けません。 この機器の臨界厚さの値については、添付の表 1 を参照してください。 d エッジ効果 装置は試験片の表面形状の急激な変化に敏感です。 したがって、試験片の端付近や内側の角の測定は信頼性が低くなります。 の
曲率
試験片の曲率は測定に影響します。 この効果は、曲率半径が減少するにつれて常に大幅に増加します。 したがって、曲面試験片の表面での測定は信頼できません。 の
f 試験片の変形
プローブは柔らかいカバーで覆われた試験片を変形させるため、これらの試験片で信頼性の高いデータを取得できます。 の
g 表面粗さ
母材および塗装の表面粗さは測定に影響します。 粗さが大きいほど、衝撃は大きくなります。 表面が粗いと、系統的誤差と偶発的誤差が生じるため、この偶発的誤差を克服するには、測定ごとに異なる位置での測定数を増やす必要があります。 母材が粗い場合は、同様の粗さのコーティングされていない母材試験片上でいくつかの位置をとり、機器のゼロ点を校正する必要があります。 または、母材を腐食しない溶液を使用して被覆層を溶解および除去してから、機器を校正します。 ゼロ。 の
g磁場
周囲のさまざまな電気機器から発生する強力な磁場は、磁気厚さの測定作業に重大な影響を与えます。 の
h 粘着物質
この機器は、プローブと被覆層の表面との密着を妨げる付着物質に敏感です。 したがって、測定器のプローブが試験片の表面に直接接触するように、付着物質を除去する必要があります。 の
i プローブ圧力
プローブによって試験片に加えられる圧力の量は測定値の読み取りに影響するため、圧力は一定に保つ必要があります。 の
j プローブの向き
プローブの設置方法は測定に影響します。 測定中、プローブはサンプルの表面に対して垂直に保つ必要があります。
機器を使用する際に遵守すべき規則
