膜厚計 QNIX4500 のリセットとデバッグ方法
QNIX4500 膜厚計をデバッグおよびリセットするにはどうすればよいですか? 誤差を減らすために、ゼロ位置を基板上の基準として取得する必要があります。 材料の磁気特性や導電率が異なるため誤差が生じるため、ゼロ調整には同じ未塗装のワーク表面を使用することをお勧めします。 未塗装のワークがない場合は、付属のゼロ調整ボードでゼロ調整が可能です。
機器を使用してマトリックスを測定します。表示が {{0}.0 の場合、すでにゼロ位置にあり、ゼロ調整が必要ないことを示します。 0.0 が表示されない場合はゼロ調整が必要です。 測定器のプローブをゼロ調整板または未塗装ワークの表面に押し当て、持ち上げずに、測定器の赤いボタンを押して手を離します。音が聞こえた後、LCD に一連の数字が表示されます。楽器を離し、再び音が鳴った後、LCD に 0.0 が表示され、ゼロ調整が完了します。
QNIX4500 膜厚計のデバッグとリセット方法
安定したゼロ位置: すべての膜厚計は、測定前にゼロ位置を校正する必要があります。ゼロ位置は、機器に付属のゼロ校正プレートまたはコーティングされていないワークピース上で校正できます。 正確な測定を保証するには、機器のゼロ位置の安定性が前提となります。 優れた厚さゲージは、ゼロ調整後、長時間ドリフトすることなくゼロ位置を維持し、正確な測定を保証します。
校正は不要: ゼロ校正に加えて、ほとんどの厚さゲージは標準シートで校正する必要があります。 ある範囲の厚みを測定するには、ある範囲の校正用標準シートを使用する必要があります。 その主な理由は、全領域で線形精度を満足できないことです。 操作が面倒なだけでなく、標準シートの表面が粗いため失敗し、システムエラーが大きくなります。
温度補正: 膜厚の測定は温度に大きく影響されます。 同じワークを異なる温度で測定すると、大きな誤差が生じます。 したがって、優れた厚さ計には、さまざまな温度での測定精度を確保するための理想的な温度補償技術が備わっている必要があります。
ルビープローブ：プローブ接点の耐摩耗性は測定精度に直接影響します。 通常の金属接触プローブでは、表面が摩耗すると大きな誤差が発生します。
