スイッチング電源トランスの過昇温問題の改善方法
実際のアプリケーションでは、電源トランスの MOS トランジスタとトランス設計自体の両方で高温上昇が発生することがよくあります。 今日は、これら 2 つの側面から始めて、スイッチング電源トランスの高温問題を効果的に解決する方法を見ていきます。
実際のアプリケーションでは、電源トランスの MOS トランジスタとトランス設計自体の両方で高温上昇が発生することがよくあります。 今日は、これら 2 つの側面から始めて、スイッチング電源トランスの高温問題を効果的に解決する方法を見ていきます。
まず、変圧器自体の観点から見ると、温度上昇が高くなりすぎて熱が発生すると、銅損、巻線プロセスの問題、変圧器の鉄損、低すぎる変圧器の設計電力という4つの問題が主な原因となります。 無負荷加熱とは、変圧器の絶縁が損傷しているか、変圧器の入力電圧が高いことを指します。 絶縁体が損傷している場合は、コイルを巻き直す必要があります。 入力電圧が高い場合は、入力電圧を下げるかコイル数を増やす必要があります。 電圧が正常で、負荷により発熱や発熱が発生する場合は、電源トランスの負荷が大きすぎるため、負荷設計を変更する必要があります。
スイッチング電源トランスの設計工程において最も厳しいのはMOS管の発熱であり、過大な温度上昇自体が損失による問題となります。 MOS トランジスタの損失は、スイッチング プロセス損失とオン状態損失の 2 つの部分で構成されます。 オン状態の損失を低減するには、オン状態抵抗の低いスイッチ トランジスタを選択することで実現できます。 スイッチングプロセスの損失は、ゲート電荷の大きさとスイッチング時間によって引き起こされます。 スイッチングプロセスの損失を減らすには、スイッチング速度が速く、回復時間が短いデバイスを選択して損失を減らすことができます。 しかし、より重要なのは、そのような損失を大幅に削減できるソフト スイッチング技術の使用など、より優れた制御方法とバッファリング技術を設計することによって損失を削減することが重要です。
また、電源トランス自体の経年劣化現象として、電源トランス自体の温度上昇が高すぎる可能性もあります。 技術者がトランス本体やMOSトランジスタをチェックして異常がない場合は、トランスの稼働時間や寿命などを考慮して総合的に判断する必要があります。
