磁気誘導膜厚計の測定原理
磁気誘導の原理を使用する場合、コーティングの厚さは、プローブから非強磁性コーティングを通って強磁性基板に流れる磁束の大きさによって測定されます。 対応する磁気抵抗のサイズを測定して、コーティングの厚さを示すこともできます。 コーティングが厚ければ厚いほど、磁気抵抗は大きくなり、磁束は小さくなります。 磁気誘導の原理を利用した膜厚計は、原理的には磁性基板上の非磁性被膜の厚みを測定することができます。 一般に、基板の透磁率は 500 を超える必要があります。 クラッド材料も磁性である場合、ベース材料との透磁率の差が十分に大きいことが必要です (例: スチール上のニッケルメッキ)。 ソフトコアにコイルを巻いたプローブを検査対象のサンプル上に置くと、機器は自動的に検査電流または検査信号を出力します。 初期の製品は誘導起電力の大きさを測定するために指針ゲージを使用し、測定器は信号を増幅してコーティングの厚さを示しました。 近年の回路設計では、周波数安定化、位相ロック、温度補償などの新技術が導入され、磁気抵抗を使用して測定信号を変調するようになりました。 また、設計した集積回路を採用し、マイコンを導入することにより、測定精度と再現性が大幅（1桁近く）向上しました。 最新の磁気誘導厚さ計の分解能は 0.1um、許容誤差は 1%、測定範囲は 10mm です。 磁気原理式膜厚計は、鋼表面の塗装層、磁器、ホーロー保護層、プラスチック、ゴム皮膜、ニッケル、クロムなどの各種非鉄金属めっき層、化学油などの各種防食皮膜の測定に使用できます。業界 。
