偏光顕微鏡用薄切片の作製プロセス

偏光顕微鏡用薄切片の作製プロセス

偏光顕微鏡でサンプルを観察する場合、標本は適格な研磨または研磨されたセクション (一般に研磨セクションと呼ばれます) に準備する必要があります。準備手順は次のとおりです。

(1) サンプルの選択：観察目的と分析要件に応じて、サンプルの代表的な部分を選択します。 10×10×10mmの立方体のブロックに切り、よく洗います。

(2) マウントまたは含浸: 小さなサイズの試料をマウントする必要があります。多孔質または緩い構造のサンプルには、事前に樹脂を含浸させます。

(3) 粗研削: サンプルの比較的平らな表面を選択します。粗い研磨剤を使用して研削盤で表面を平らに研ぎ、形状を整え、鋭利なエッジや角を取り除きます。

(4) 細研削: 粗研削で残った傷が完全になくなるまで、細かい砥粒を使用して研削します。

(5) 精密研削：超微細砥粒を使用して、表面が完全に平坦になり、光で観察するとかすかな反射が見えるまでさらに研削します。

(6) 研磨：試験片を研磨機に置き、研磨剤（研磨粉）を塗布して研磨します。表面が明るくなり、反射光顕微鏡で検査したときに明らかな傷がなくなるまで作業を続けます。

(7) マーキング: 完成した標本に番号を付け、ラベルを貼り付けて、出所と名称を明確にします。

(8) エッチング：実験目的や分析要件に応じて適切なエッチング方法や条件を選択し、試料にエッチング処理を施します。

透過光と反射光の両方で微細構造分析を行う必要がある場合、試料は研磨された薄い切片、または極薄の研磨された切片（厚さ < 0.02 mm）に調製されます。研磨薄切片を作製するには、まず試験片をカバーガラスで覆わずに厚さ0.03 mmまで研磨し、次に精密に研磨された表面を研磨機で研磨します。