マルチメータを使用したメモリチップの測定
メインボードとメモリモジュールの間には 64 本のデータピン (D0 ～ D63) があります。これらのメモリ データ ピンを保護するために、64 個のデータ ビット ピン D0 ～ D63 のそれぞれには、電流制限の目的で小さな値の抵抗 (10 Ω) が取り付けられています。専用テスターの主な動作原理は、プログラムを通じてメモリ チップの各データ ビット ピンを繰り返しテストし、データ ビット ピンだけでなくチップのクロック ピンやアドレス ピンの故障や短絡状態をチェックすることです。
したがって、マルチメータでチップをテストする場合、専用のテスタから派生した方法を採用することができます。赤いプローブをグランド (ピン 1) に接続し、黒いプローブを使用して各直列抵抗の抵抗を測定します。取得された抵抗値はメモリチップのデータビットの抵抗値に対応しており、これによって障害のあるチップを特定できます。通常の状態では、すべてのデータビット抵抗は同一である必要があります。この方法は、専用のテスターを使用するよりも直感的ではありませんが、DDR メモリ チップの良否を判断するために使用できます。
取扱説明書によると、2A と 2B とマークされたメモリテスト位置は、それぞれシングルバンク構成とデュアルバンク構成を表します。 8 つの 16 ビット チップは 2 つのバンクに相当します。同様に、16 個の 8 ビット チップも 2 つのバンクを構成します。
2A は最初のバンクを表し、2B は 2 番目のバンクを表します。
測定中、テスターは各バンク内の各チップのすべてのデータビット ピンを循環します。チップは 3 ～ 5 回の繰り返しテスト サイクルに合格した場合、良品とみなされます。正常なチップには「PASS」が表示され、欠陥のあるチップには欠陥のあるデータビットのピン番号が表示されます。
テスターが電源投入後にテスト ルーチンに入ることができない場合、一般的な原因としては、チップの短絡や PCB トレースの短絡などが考えられます。トラブルシューティングを行うには、チップのはんだを除去し、正常な PCB に実装して、チップ自体に欠陥があるかどうかを確認します。
メモリ テスターは SPD チップをテストしません。 SPD チップはオプションです。
ゴールデンフィンガーが焼けてしまうと検査ができなくなります。障害が発生した場合は、チップを取り外して正常な PCB に取り付ける必要があります
