膜厚計使用上の注意事項
a 卑金属の特性
磁気法の場合、標準片の母材の磁気特性及び表面粗さは、試験片の母材と同様でなければならない。
渦電流法の場合、標準板の母材の電気的特性は、試験片の母材の電気的特性と同様でなければならない。 の
b 母材の厚さ
母材の厚さが臨界厚さを超えているかどうかを確認し、そうでない場合は、3.3 のいずれかの方法を使用して校正します。 の
c エッジ効果
エッジ、穴、内側の角など、試験片の急激な変化の近くで測定を行うべきではありません。 の
d 曲率
試験片の曲面での測定は行わない。 の
e 読み取り回数
機器からの各読み取り値は同一ではないため、多くの場合、各測定領域内で複数の読み取り値を取得する必要があります。 カバーの厚さの局所的な変動も、特に表面が粗い場合、特定の領域で複数の測定が必要です。 の
f 表面の清浄度
測定前に、ほこり、グリース、腐食生成物など、表面に付着した物質をすべて除去する必要がありますが、被覆物質は除去しないでください。
