測定値に影響を与える要因とその解決策

Nov 09, 2025

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測定値に影響を与える要因とその解決策

 

1. 境界間隔

プローブと測定対象物の境界、穴、空洞、またはその他の断面変化との間の距離が指定された境界距離未満の場合、磁束または渦電流キャリアの断面積が不十分であるため、測定誤差が発生します。-この時点でコーティングの厚さを測定する必要がある場合は、同じ条件下でコーティングされていない表面で事前に校正することによってのみ測定できます。 (注:新製品はコーティング校正により3~10%の精度を実現する独自の機能を備えています。)

 

2. 基板の表面曲率

平らな比較サンプルで初期値を校正し、コーティングの厚さを測定した後、この初期値を差し引きます。または、次の記事を参照してください。

 

3. 表面粗さと表面清浄度

粗い表面の代表的な平均測定値を取得するには、複数の測定を行う必要があります。基板やコーティングが粗ければ粗いほど、測定値の信頼性が低くなるのは明らかです。信頼できるデータを得るには、基材の平均粗さ Ra がコーティング厚さの 5% 未満である必要があります。表面の不純物については、除去する必要があります。一部の機器では、これらの「飛び点」を排除するために上限と下限が設定されています。

 

4. プローブ測定基板にかかる力

プローブ測定中に加えられる力は一定である必要があります。そして、それはできるだけ小さくなければなりません。ソフトコーティングの変形や測定値の低下を防ぐ。活性に大きな変動がある場合は、必要に応じて、硬くて非導電性の厚い硬質フィルムを 2 つの間に配置できます。-膜厚を差し引くことで残留磁気を適切に求めることができる。

 

5. 外部定磁場、電磁場、基板の残留磁気

干渉を引き起こす可能性のある外部磁場の近くでの測定は避けてください。検出器の性能によっては残留磁気により測定誤差が生じる場合がありますが、形鋼や深絞り成形鋼板などでは一般にそのような現象は起こりません。

 

6. 層材料内の強磁性成分と導電性成分

特定の顔料などの特定の強磁性成分がコーティング内に存在すると、測定値に影響を与える可能性があります。この場合、校正に使用される基準サンプルのコーティングは、試験対象のコーティングと同じ電磁特性を有し、校正後に使用される必要があります。使用する方法としては、アルミニウムまたは銅板のサンプルに同じコーティングを塗布し、渦電流法でテストした後、比較標準サンプルを取得することができます。関連する計測部門や試験部門からも購入できます。

 

3 EMF meter

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