膜厚計プローブの使用時によく遭遇する問題
膜厚計のプローブを修理する場合、磁心の磨耗が激しいことがよくあり、中には深刻な損傷を負っているものもあると言えます。 たとえば、N1 ヘッドのジュエル コアは損傷してバラストが発生することが多く、F1 ヘッドの磁気コアのアーク コアは平らになったり変形したりします。
まず、使用中にプローブが磨耗するのは正常です。 ただし、使用者がその特性に注意すれば、耐用年数は長くなります。
普遍的な問題は、測定中、テストは通常下向きに行われるため、ユーザーはより強く下向きに押す傾向があり、時間の経過とともにプローブ コアの破損を引き起こしやすくなるということです。 正しい使用方法は、プローブを試験対象のワークピースから 1 cm 離したときに、試験対象の表面にそっと押し当てることです。これは、プローブには設計上誘導圧力バネが組み込まれており、必要なのは優しく押し下げられるように。 一方で、プローブの移動を繰り返すと、他の物体と衝突しやすく、プローブが損傷しやすい。 したがって、使用条件が許せば、プローブを固定して測定対象物にプローブを接触させることも可能です。 プローブの衝突を軽減します。
別のケースでは、測定時に次の点を測定するたびに、磁気コアの磨耗を減らすために、測定ヘッドを平らにせずに持ち上げる必要があります。
最後に、プローブの固有振動数が変化して機能しなくなることがないように、プローブを強い磁場から遠ざける必要があります。 正しい操作と使用により、機器の耐用年数が長くなります。
膜厚計を使用する際の注意事項
a 卑金属の性質
磁気法の場合、標準片の母材の磁気特性および表面粗さは試験片の母材と同様とする。
渦電流法の場合、標準シートの母材の電気的特性は試験片の母材の電気的特性と同様でなければなりません。
b 母材の厚み
ベースメタルの厚さが臨界厚さを超えているかどうかを確認し、超えていない場合は、3.3 のいずれかの方法を使用して校正します。
Cエッジ効果
試験片の端、穴、内側の角などの急激な変化の近くで測定を行わないでください。
d 曲率
試験片の曲面の測定は行わないでください。
e読み取り回数
多くの場合、機器からの各読み取り値は同一ではないため、各測定領域内で複数の読み取り値を取得する必要があります。 カバーの厚さが局所的に異なる場合は、特に表面が粗い場合には、任意の領域で複数の測定を行う必要があります。
f表面清浄度
測定前に、表面のゴミ、油脂、腐食生成物などの付着物を除去してください。ただし、被覆物質は除去しないでください。
