デジタルマルチメーターを使用して一般的なコンデンサの品質を評価する方法
1. 10pF 以下の小さなコンデンサの検出: 10pF 以下の固定コンデンサの容量が小さいため、マルチメータによる測定では、漏れ、内部短絡、故障の有無を定性的に確認することしかできません。
測定するときは、マルチメーター R × 10k ギアを使用でき、2 つのプローブを使用してコンデンサの任意の 2 つのピンを接続し、抵抗値は無限大でなければなりません。 測定された抵抗値（指針が右に振られる）がゼロの場合、コンデンサが漏電または内部破壊により損傷していることを示します。
2. 10PF～001μの固定コンデンサFを検出：充電現象の有無を判断し、良否を判断します。 マルチメーター選択 R × 1k ギア。 2 つのトランジスタ 値はすべて 100 を超えており、貫通電流は小さいはずです。 コンポジット管は、3DG6 などのモデルのシリコン三極管で構成できます。
マルチメータの赤と黒のプローブは、それぞれ複合管のエミッタ e とコレクタ c に接続されています。 複合トランジスタの増幅効果により、被測定コンデンサの充放電過程が増幅され、マルチメータの指針の振りが大きくなり観察が容易になります。
テスト操作中、特に小さい容量のコンデンサを測定する場合、マルチメータのポインタの振動を明確に確認するには、テスト対象のコンデンサピンを接点 A と B に繰り返し切り替える必要があることに注意してください。
001μの場合 F以上の固定コンデンサはマルチメータのR値で測定可能 × コンデンサの充電過程や10kギアでの内部短絡や漏れを直接検査し、指針の振れ幅からコンデンサの容量を推定右の方へ。
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障害処理:
1. 10pF 以下の小さなコンデンサの検出: 10pF 以下の固定コンデンサの容量が小さいため、マルチメータによる測定では、漏れ、内部短絡、故障の有無を定性的に確認することしかできません。
測定するときは、マルチメーター R × 10k ギアを使用でき、2 つのプローブを使用してコンデンサの任意の 2 つのピンを接続し、抵抗値は無限大でなければなりません。 測定された抵抗値（指針が右に振られる）がゼロの場合、コンデンサが漏電または内部破壊により損傷していることを示します。
2. 10PF～001μの固定コンデンサFを検出：充電現象の有無を判断し、良否を判断します。 マルチメーター選択 R × 1k ギア。 2 つのトランジスタ 値はすべて 100 を超えており、貫通電流は小さいはずです。 コンポジット管は、3DG6 などのモデルのシリコン三極管で構成できます。
マルチメータの赤と黒のプローブは、それぞれ複合管のエミッタ e とコレクタ c に接続されています。 複合トランジスタの増幅効果により、被測定コンデンサの充放電過程が増幅され、マルチメータの指針の振りが大きくなり観察が容易になります。
テスト操作中、特に小さい容量のコンデンサを測定する場合、マルチメータのポインタの振動を明確に確認するには、テスト対象のコンデンサピンを接点 A と B に繰り返し切り替える必要があることに注意してください。
001 μ F を超える固定コンデンサは、マルチメータの R 値を使用して測定できます。充電プロセスと内部短絡または漏れについて、10k ギアでコンデンサを直接テストします。 1. コンデンサの一般的な故障。 コンデンサに次のような状態が確認された場合は、直ちに電源を遮断してください。
