スイッチング電源トランスの過昇温問題の改善方法
実際のアプリケーションでは、電源トランスの MOS トランジスタとトランス自体の設計という 2 つの側面で過度の温度上昇が発生することがよくあります。今日は、これら 2 つの側面から始めて、スイッチング電源トランスの過度の温度上昇の問題を効果的に解決する方法を見ていきます。
実際のアプリケーションでは、電源トランスの MOS トランジスタとトランス自体の設計という 2 つの側面で過度の温度上昇が発生することがよくあります。今日は、これら 2 つの側面から始めて、スイッチング電源トランスの過度の温度上昇の問題を効果的に解決する方法を見ていきます。
まず、変圧器自体の観点から見ると、一度高温上昇と過熱が発生すると、主に銅損、巻線プロセスの問題、変圧器の鉄損、および変圧器の設計電力が小さすぎるという 4 つの問題が原因で発生します。変圧器の絶縁不良や変圧器の高入力電圧による負荷加熱がありません。絶縁不良の場合はコイルの巻き直しが必要となり、入力電圧が高い場合は入力電圧を下げるかコイルの数を増やす必要があります。電圧が正常で、負荷によって発熱する場合は、電源トランスの負荷が高すぎるため、負荷設計を変更する必要があることを意味します。
スイッチング電源トランスの設計工程において最も問題となるのはMOSトランジスタの発熱であり、損失による高温上昇が問題となります。 MOS トランジスタの損失は、スイッチング プロセス損失とオン状態損失の 2 つの部分で構成されます。オン状態の損失を減らすために、オン状態抵抗の低いスイッチング トランジスタを使用できます。スイッチングプロセスの損失は、ゲート電荷の大きさとスイッチング時間によって引き起こされます。スイッチングプロセスの損失を軽減するには、スイッチング速度が速く、回復時間が短いデバイスを選択できます。しかし、より重要なことは、ソフト スイッチング技術を使用するなど、損失を削減するためのより良い制御方法とバッファリング技術を設計することによって、この損失を大幅に削減できることです。
また、電源トランス自体の温度上昇が高くなりすぎている、つまりトランス自体が経年劣化している可能性もあります。技術者がトランス本体やMOSトランジスタをチェックして異常がない場合は、トランスの稼働時間や寿命などを考慮して総合的に判断する必要があります。
