新しい膜厚計技術
1 ゼロ調整。つまり、特定のゼロボード上のゼロ調整、または測定する必要がある元の基板上のゼロ調整。
2. 測定製品の測定範囲の違いに応じて、適切な試験片を使用して値を調整し、測定誤差を減らします。
通常、新しく購入して使用する場合にはこの方法で問題ありませんが、面倒です。
しかし、プローブを一定期間使用すると、問題が発生しました。 動作中、当社の機器の測定精度は大幅に低下します。
把握するのは難しいです。 その理由は、プローブが磁石を使ってコイルを巻いているという製品の原理に致命的な欠陥があるからです。
電流を流すと磁場が発生しますが、この磁場は不規則です。
幸いなことに、最新の磁気センシング技術を使用した新しいタイプの膜厚計 FT200 膜厚計があります。
これは、1879 年にホールによって発見されたホール効果として知られているものです。ホール電圧と動作電流の関係を研究し、電磁石の磁場と透磁率を測定し、ホール電圧と磁気の関係を研究することによって、 Hall は、電位差 UH が電流の強さ IH に比例し、磁気誘導 B に比例することを発見しました。それはシートの厚さ d に反比例します。
この磁場は規則的になります。 この原理を膜厚計に応用すると、試験片の調整が不要になります。 特に円弧や凹面の製品を測定する場合、より簡単かつ便利に使用できます。
