膜厚計のプローブによくある問題

膜厚計のプローブによくある問題
 

膜厚計のプローブは使用中に稀に不具合が発生する場合があります。膜厚計のプローブを修理する場合、磁心の磨耗が激しい場合が多く、中にはひどく損傷しているものもあります。たとえば、N1 ヘッドの宝石コアは損傷したり欠けたりすることが多く、F1 ヘッドの磁気コアのアーク コアは平らになったり変形したりします。

まず、使用中にプローブが摩耗するのは正常です。しかし、ユーザーがその特性に注意を払えば、耐用年数は長くなります。

これらに共通する問題は、測定中、通常は下向きのテストを行うため、ユーザーが押し下げるためにより多くの力を使用することが多く、時間の経過とともにプローブのコアが破損する可能性があることです。プローブには誘導圧バネが内蔵されており、測定対象物表面から1cm離れたところにプローブを軽く押し当てるのが正しい使い方です。一方で、プローブの繰り返し移動中に、他の物体との衝突、衝突、衝突が発生しやすく、プローブヘッドが損傷する可能性もあります。したがって、作業条件が許せば、プローブヘッドを固定し、測定対象物をプローブに接触させることができ、プローブの衝突を軽減できます。

また、測定時に磁気コアの磨耗を減らすために、測定ヘッドを平らにせずに持ち上げる必要がある場合もあります。

最後に、プローブの固有振動数が変化して誤動作を引き起こすことを避けるために、プローブを強い磁場から遠ざける必要があります。正しい操作と使用方法により、機器の耐用年数が長くなります。