膜厚計の使用ガイドライン
a 卑金属の性質
磁気法の場合、標準片の母材の磁気特性および表面粗さは試験片の母材と同様とする。 の
渦電流法の場合、標準シートの母材の電気的特性は試験片の母材の電気的特性と同様でなければなりません。 の
b 母材の厚み
ベースメタルの厚さが臨界厚さを超えているかどうかを確認し、超えていない場合は、3.3 のいずれかの方法を使用して校正します。 の
Cエッジ効果
試験片の端、穴、内側の角などの急激な変化の近くで測定を行わないでください。 の
d 曲率
試験片の曲面の測定は行わないでください。 の
e 読み取り回数
多くの場合、機器からの各読み取り値は同一ではないため、各測定領域内で複数の読み取り値を取得する必要があります。 カバーの厚さが局所的に異なる場合は、特に表面が粗い場合には、任意の領域で複数の測定を行う必要があります。 の
f 表面の清浄度
測定前に、表面のゴミ、油脂、腐食生成物などの付着物を除去する必要がありますが、被覆物質は除去しないでください。
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