膜厚測定子のパラメータ変更のヒント

膜厚測定子のパラメータ変更のヒント

膜厚計は多くの業界で完成品の品質検査の重要なプロセスとなっており、製品が高品質基準を満たすために必要な手段となっています。永久磁石（プローブ）と磁化鋼の間の吸引力は、両者の間の距離、つまりコーティングの厚さに比例します。この原理を利用して厚さ計を作成すると、コーティングと基材の間の浸透率の差が十分に大きい限り、それを測定できます。工業製品の多くは構造用鋼や熱延・冷間圧延鋼板をプレス加工して作られているため、広く使用されています。

膜厚計の基本構造は、磁性鋼、リレースプリング、定規、自己停止機構から構成されています。磁性鋼が測定対象物に吸着されると、測定バネが徐々に伸び、張力が徐々に増加します。引張力が吸引力よりもわずかに大きい場合、磁性鋼が剥離する瞬間の引張力の大きさを記録して、コーティングの厚さを求めることができます。新製品では、この記録プロセスを自動的に完了できます。本器の特徴は、操作が簡単、耐久性があり、電源不要、測定前の校正不要、低価格であることです。工場での現場での品質管理に非常に適しています。

膜厚計は、上記の非磁性金属基板上の非導電性膜の膜厚を非破壊で測定する有効な手段です。現代の工学材料の開発と応用の実践により、アルミニウム、銅、亜鉛、およびそれらの合金材料などのさまざまな非鉄金属材料が、航空、建築材料、冶金、軽工業、機械、計器などの産業で広く使用されていることがわかりました。 、化学工学では、耐用年数を延ばすために、酸化膜、塗料、スプレー成形、ゴムなどの表面コーティングによる防食保護が必要になることがよくあります。

膜厚測定子が試験サンプルと接触すると、測定子装置によって生成される高周波電磁場により、測定子の下に配置された金属導体に渦電流が発生します。その振幅と位相は、導体と測定子の間の非導電性コーティングの厚さの関数です。つまり、ゲージによって生成される交流電磁場によって測定子のパラメータが変化し、測定子のパラメータ変数の大きさはコーティング層の厚さに依存します。測定ヘッドパラメータ変数の大きさを測定し、この電気信号を変換することにより、測定されたコーティング層の厚さの値を得ることができます。

膜厚計を校正するとパラメータは保存されるため、校正プロセスを繰り返す必要はありません。長期間の動作後、または機器を一定期間使用しなかった場合には、以前の校正機器と同じ校正基板/ホイルを使用することをお勧めします。このプロセスは、コーティングされていない試験片上で機器をゼロ調整することによって達成され、コーティングの厚さはこの試験片上で測定されます。