クラッドの厚さ測定には、コーティングの厚さ測定に比べてどのような利点がありますか?
膜厚計は新開発の製品で、従来の膜厚計と比較して次のような主な利点があります。
1. 速い測定速度: 他の TT シリーズよりも 6 倍速い。
2. 高精度: 製品の精度は、0 の簡単な校正後に 1-2 パーセントに達します。 現在の市場ではAレベルに到達できる製品であり、タイムズなどの同じ国産製品と比べても精度は格段に高いです。 EPKなどの輸入品よりも高いですが、
3.安定性：測定値の安定性と使用の安定性は輸入製品よりも優れています。
4. 機能、データ、操作、表示はすべて中国語です。
コーティング、メッキ、クラッディング、貼り付け、化学形成フィルムなど、材料の表面を保護および装飾するために形成される被覆層は、関連する国内および国際規格ではコーティングと呼ばれます。 コーティング厚さの測定は、加工産業や表面工学における品質検査の重要な部分となっており、製品が高い品質基準を満たすために不可欠な手段となっています。 製品を国際化するために、我が国の輸出商品や海外関連プロジェクトでは被覆材の厚さについて明確な要件があります。
膜厚の測定方法には主に、くさび切断法、光学切断法、電解法、膜厚差測定法、秤量法、蛍光X線法、γ線後方散乱法、静電容量法、磁気測定法、渦電流測定法などがあります。これらの方法のうち、最初の 5 つは破壊検査であり、測定方法は煩雑で時間がかかり、ほとんどが抜き取り検査に適しています。
X線法やX線法は非接触・非破壊で測定できますが、装置が複雑で高価であり、測定範囲も狭いです。 放射線源があるため、ユーザーは放射線防護規制に従う必要があります。 X線法により極薄膜、二重膜、合金膜の測定が可能です。 線法は、被膜および基板の原子番号が 3 を超える被膜の測定に適しています。静電容量法は、薄い導体の絶縁被膜の厚さを測定する場合にのみ使用されます。
