膜厚計の誤差が大きい場合の対処方法
計測器の不正確さにはさまざまな理由があります。コーティング厚さ計に限って言えば、不正確な測定を引き起こす主な理由は次のとおりです。
（１）強い磁場からの干渉。私たちはかつて簡単な実験を行ったことがあります。機器が約10,000 Vの電磁場の近くで動作する場合、測定はひどく干渉されます。電磁場に非常に近い場合は、クラッシュが発生する可能性があります。
（2）人的要因。この状況は、新しいユーザーによく起こります。コーティング厚さ計がミクロンレベルまで測定できるのは、磁束の小さな変化を捉えてデジタル信号に変換できるためです。測定プロセス中に、ユーザーが機器に慣れていない場合、プローブが測定対象から外れ、磁束の変化を引き起こし、誤った測定を引き起こす可能性があります。したがって、この機器を初めて使用する場合は、まず測定方法を習得することをお勧めします。プローブの配置は測定に大きな影響を与えます。測定中は、プローブをサンプルの表面に対して垂直に保つ必要があります。また、マトリックス自体の磁場による干渉を避けるため、プローブを長時間配置しないでください。
（3）システムキャリブレーション中に適切なマトリックスが選択されませんでした。基板の最小平面は7mm、最小厚さは0.2mmです。これらの臨界条件を下回る測定値は信頼できません。
（4）付着物質の影響。この機器は、プローブが被覆表面と密着するのを妨げる付着物質に敏感です。したがって、プローブと被覆表面が直接接触するように、付着物質を除去する必要があります。システムキャリブレーションを実行するときは、選択した基板の表面もむき出しで滑らかでなければなりません。
測定プロセス中に、測定データに大きな偏差が現れることがあるのはなぜですか?
測定プロセス中に、プローブの配置が不適切であったり、外部干渉要因の影響により、測定データが大幅に大きくなる場合があります。このとき、CAL キーを押してデータをアクティブにすると、データ統計の入力を回避できます。
システムをキャリブレーションするにはどうすればいいですか?
校正方法と種類は、新しいユーザーがよく遭遇する質問です。システム校正、ゼロ点校正、2点校正は、実際には取扱説明書に記載されています。ユーザーはそれを注意深く読むだけで済みます。鉄ベースを校正するときは、誤操作を防ぐために数回測定するのが最善であることに注意してください。システム校正のサンプルは、小さいものから大きいものの順に実行する必要があります。個々の標準片が紛失した場合は、同様の値のサンプル片を見つけて交換することができます。
