膜厚計プローブに関するいくつかの典型的な問題

膜厚計プローブに関するいくつかの典型的な問題

膜厚計のプローブは使用中に問題が発生することがあります。 膜厚計のプローブを修理する場合、磁心の磨耗が激しいことがよくあり、中には深刻な損傷を負っているものもあると言えます。 たとえば、N1 ヘッドのジュエル コアは損傷してバラストが発生することが多く、F1 ヘッドの磁気コアのアーク コアは平らになったり変形したりします。

まず、使用中にプローブが磨耗するのは正常です。 ただし、使用者がその特性に注意すれば、耐用年数は長くなります。

普遍的な問題は、測定中、テストは通常​​下向きに行われるため、ユーザーはより強く下向きに押す傾向があり、時間の経過とともにプローブ コアの破損を引き起こしやすくなるということです。 正しい使用方法は、プローブを試験対象のワークピースから 1 cm 離したときに、試験対象の表面にそっと押し当てることです。これは、プローブには設計上誘導圧力バネが組み込まれており、必要なのは優しく押し下げられるように。 一方で、プローブの移動を繰り返すと、他の物体と衝突しやすく、プローブが損傷しやすい。 したがって、使用条件が許せば、プローブを固定して測定対象物にプローブを接触させることも可能です。 プローブの衝突を軽減します。

別のケースでは、測定時に次の点を測定するたびに、磁気コアの磨耗を減らすために、測定ヘッドを平らにせずに持ち上げる必要があります。

最後に、プローブの固有振動数が変化して機能しなくなることがないように、プローブを強い磁場から遠ざける必要があります。 適切な操作と使用により、機器の耐用年数を延ばすことができます。